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檢驗平臺的支點(diǎn)設計
2018-10-19 09:05:15
文章摘要:
為了使檢驗平臺保持由于自重而產(chǎn)生的撓度小,標準推薦使用標準支承位置。即兩個(gè)支點(diǎn)應在離開(kāi)邊緣0.22a與0.22b,第三點(diǎn)為0.22a與0.5b位置配置。 之所以這樣配置,是考檢驗平臺通常是...
為了使檢驗平臺保持由于自重而產(chǎn)生的撓度小,標準推薦使用標準支承位置。即兩個(gè)支點(diǎn)應在離開(kāi)邊緣0.22a與0.22b,第三點(diǎn)為0.22a與0.5b位置配置。
之所以這樣配置,是考檢驗平臺通常是在正常安放條件下完成制作的,由自重而產(chǎn)生的撓度,不會(huì )影響平臺精度,因此支承點(diǎn)設置在離邊緣較近的地方,基本上減少了平臺傾覆危險性。有的平臺采用四點(diǎn)支承,這種平臺在制造(鏟刮或研磨)或使用中,必然是一時(shí)支承在這三點(diǎn)上(這三點(diǎn)支承硬一些),一時(shí)又支承在另三點(diǎn)上(另三點(diǎn)支承硬一些),使平臺受力點(diǎn)處于不定狀態(tài)。
然而,檢驗平臺并非剛體,會(huì )使工作面產(chǎn)生微量變形,使平臺平面度值變動(dòng)無(wú)常,以致超差。所以一般還是使用三個(gè)支點(diǎn)的。